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禾苗分析仪器

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E8-P:镀层测厚仪器、RoHS检测仪器
单          价:
面议
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詹经理
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禾苗分析仪器
详细信息

产品特点

外形特点:

● 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。

● 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。

● 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。

● 可视化样品窗。

● 辐射防护:

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。

● 辐射标志警示。

●迷宫式结构,防止射线泄漏。

● 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X 仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。


硬件技术:

● 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。

● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。

● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。

● 电路系统符合EMC、FCC测试标准。

● 专利技术快拆样品盘,更换薄膜更 软件技术:

● 分析元素:Na~U之间元素。

● 分析时间:60秒。

● 配置RoHS检测分析模型,无卤分析 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易可配置镀层测厚模型、玩具指令等模型。

● HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。

● HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。


硬件配置

探测器

● 类型:X123探测器(采用原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

● 信号处理系统DP5


X射线管

● 电    压 :0~50kV

● 最大电流 :2.0mA

● 最大功率 :50W

● 靶    材 :Mo

● Be窗厚度 :0.2mm

● 使用寿命 :大于2万小时


高压电源

● 输出电压:0~50kV

● 灯丝电流:0~2mA

● 最大功率:50W

● 纹波系数:0.1%(p-p 8小时稳定性:0.05%


摄像头

● 微焦距

● 500万像素


准直器、滤光片

● 快拆卸准直器、滤光片系统

● 多种材质准直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选

● 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换


其他配件

●进口高性能开关电源

●进口低噪声、大风量风扇

仪器规格

● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (长x宽x高)

● 仪器重量   :33.5kg

● 供电电源 :AC220V/ 50Hz

● 最大功率 :330W

● 工作温度 :15-30℃

● 相对湿度 :≤85%,不结露

应用领域

● 镀层分析:各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析;镀层元素含量分析
● RoHS /ELV指令测试元素:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)、Br(溴)

●无卤检测:测试元素:Br(溴)、Cl(氯);

●合金分析:钢铁、铜类、锌类等成分分析。


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